ISO 15632:2002
Анализ с использованием микропучка. Технические требования к энергодисперсионным рентгеновским спектрометрам с полупроводниковыми детекторами
Статус: Заменен Дата введения в действие: 05.12.2002
| Обозначение | ISO 15632:2002 |
|---|---|
| Статус | Заменен |
| Вид стандарта | ST |
| Заглавие на русском языке | Анализ с использованием микропучка. Технические требования к энергодисперсионным рентгеновским спектрометрам с полупроводниковыми детекторами |
| Заглавие на английском языке | Microbeam analysis. Instrumental specification for energy dispersive X-ray spectrometers with semiconductor detectors |
| Дата отмены | 31.07.2012 00:00:00 |
| Наличие терминов РОСТЕРМ | 1 |
| Код КС (ОКС, МКС) | 37.020; 71.040.99 |
| Обозначение заменяющего | ISO 15632:2012 |
| ТК – разработчик стандарта | TC 202 |
| Язык оригинала | английский |
| Номер издания | 1 |
| Дата опубликования | 05.12.2002 |
| Количество страниц оригинала | 12 |