NF EN 60749-3-2002
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 3. Внешний визуальный осмотр
Статус: Дата введения в действие:
| Обозначение | NF EN 60749-3-2002 |
|---|---|
| Заглавие на русском языке | Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 3. Внешний визуальный осмотр |
| Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 3 : external visual examination. |
| МКС | 31.080.01 |