NF C86-253-1987
Согласованная система оценки качества электронных изделий СЕNЕLЕС.Динамическое запоминающее устройство с оперативной записью и считыванием на интегральных микросхемах МОП. Типовая форма частных технических условий
Статус: Дата введения в действие:
| Обозначение | NF C86-253-1987 |
|---|---|
| Заглавие на русском языке | Согласованная система оценки качества электронных изделий СЕNЕLЕС.Динамическое запоминающее устройство с оперативной записью и считыванием на интегральных микросхемах МОП. Типовая форма частных технических условий |
| Заглавие на английском языке | HARMONIZED SYSTEM OF QUALITY ASSESSMENT FOR ELECTRONIC COMPONENTS. MOS READ/WRITE DYNAMIC MEMORIES SILICON MONOLITHIC CIRCUITS. BLANK DETAIL SPECIFICATION. ( SPECIFICATION CECC 90 112). |
| МКС | 31.200* 35.160 |