NF EN 60749-14-2004
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 14. Прочность выводов (целостность концевых выводов)
Статус: Дата введения в действие:
Обозначение | NF EN 60749-14-2004 |
---|---|
Заглавие на русском языке | Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 14. Прочность выводов (целостность концевых выводов) |
Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 14 : robustness of terminations (lead integrity). |
МКС | 31.080.01 |