NF EN 60749-4-2002
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 4. Высокоускоренные испытания в утяжеленном установившемся режиме, вызванным влажным теплом (HAST)
Статус: Дата введения в действие:
| Обозначение | NF EN 60749-4-2002 |
|---|---|
| Заглавие на русском языке | Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 4. Высокоускоренные испытания в утяжеленном установившемся режиме, вызванным влажным теплом (HAST) |
| Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 4 : damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST). |
| МКС | 31.080.01 |