NF EN 60749/A2-2002
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Изменение 2
Статус: Дата введения в действие:
Обозначение | NF EN 60749/A2-2002 |
---|---|
Заглавие на русском языке | Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Изменение 2 |
Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods. Amendment 2 |
МКС | 31.080.01 |