NF C86-010/A2-1989
Согласованная система оценки качества электронных изделий СЕNЕLЕС. Полупроводниковые дискретные приборы. Общие технические условия. Изменение 2
Статус: Дата введения в действие:
| Обозначение | NF C86-010/A2-1989 |
|---|---|
| Заглавие на русском языке | Согласованная система оценки качества электронных изделий СЕNЕLЕС. Полупроводниковые дискретные приборы. Общие технические условия. Изменение 2 |
| Заглавие на английском языке | SEMICONDUCTOR DEVICES. HARMONIZED SYSTEM OF QUALITY ASSESSMENT FOR ELECTRONIC COMPONENTS. DISCRETE SEMICONDUCTOR DEVICES. GENERIC SPECIFICATION. (CECC 50 000). AMENDMENT 2 |
| МКС | 31.080.01 |