NF EN 60749-19-2003
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 19. Прочность кристалла на сдвиг
Статус: Дата введения в действие:
| Обозначение | NF EN 60749-19-2003 |
|---|---|
| Заглавие на русском языке | Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 19. Прочность кристалла на сдвиг |
| Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 19: Die shear strength |
| МКС | 31.080.01 |