NF EN 60749-5-2003
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 5: Испытания на долговечность при смещении установившегося состояния по температуре и влажности
Статус: Дата введения в действие:
| Обозначение | NF EN 60749-5-2003 |
|---|---|
| Заглавие на русском языке | Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 5: Испытания на долговечность при смещении установившегося состояния по температуре и влажности |
| Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5 : steady-state temperature humidity bias life test. |
| МКС | 31.080.01 |