NF EN 60749/A1-2002
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Изменение 1
Статус: Дата введения в действие:
| Обозначение | NF EN 60749/A1-2002 |
|---|---|
| Заглавие на русском языке | Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Изменение 1 |
| Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods. Amendment 1 |
| МКС | 31.080.01 |