NF EN 60749-35-2006
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 35. Акустическая микроскопия для электронных компонентов в пластиковой упаковке
Статус: Дата введения в действие:
| Обозначение | NF EN 60749-35-2006 |
|---|---|
| Заглавие на русском языке | Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 35. Акустическая микроскопия для электронных компонентов в пластиковой упаковке |
| Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 35 : acoustic microscopy for plastic encapsulated electronic components. |
| МКС | 31.080.01 |