NF EN 60749-2-2002
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 2. Пониженное атмосферное давление
Статус: Дата введения в действие:
| Обозначение | NF EN 60749-2-2002 |
|---|---|
| Заглавие на русском языке | Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 2. Пониженное атмосферное давление |
| Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 2 : low air pressure. |
| МКС | 31.080.01 |