NF C86-252-1987
Согласованная система оценки качества электронных изделий СЕNЕLЕС.Постоянное запоминающее устройство на МОП-схемах С ультрафиолетовым стиранием и электрическим программированием. Типовая форма частных технических условий
Статус: Дата введения в действие:
| Обозначение | NF C86-252-1987 |
|---|---|
| Заглавие на русском языке | Согласованная система оценки качества электронных изделий СЕNЕLЕС.Постоянное запоминающее устройство на МОП-схемах С ультрафиолетовым стиранием и электрическим программированием. Типовая форма частных технических условий |
| Заглавие на английском языке | HARMONIZED SYSTEM OF QUALITY ASSESSMENT FOR ELECTRONIC COMPONENTS. MOS ULTRA-VIOLET LIGHT ERASABLE ELECTRICALLY PROGRAMMABLE READ ONLY MEMORIES SILICON MONOLITHIC CIRCUITS BLANK DETAIL SPECIFICATION. (SPECIFICATION CECC 90 113). |
| МКС | 31.200* 35.160 |