NF EN 60749-18-2003
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 18. Нейтронное облучение (суммарная доза)
Статус: Дата введения в действие:
| Обозначение | NF EN 60749-18-2003 |
|---|---|
| Заглавие на русском языке | Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 18. Нейтронное облучение (суммарная доза) |
| Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 18 : ionizing radiation (total dose). |
| МКС | 31.080.01 |