OEVE/OENORM EN 60749-2000
Статус: Заменен Дата введения в действие:
| Обозначение | OEVE/OENORM EN 60749-2000 |
|---|---|
| Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods (IEC 60749:1996) |
| МКС | 31.080.01 |
| Вид стандарта | ST |
| Обозначение заменяющего | OEVE/OENORM EN 60749+A1(2001.11.01) |
| Язык оригинала | немецкий |
| Количество страниц оригинала | 29 |
| Статус | Заменен |