OEVE/OENORM EN 60749-5-2003
Статус: Действует Дата введения в действие:
| Обозначение | OEVE/OENORM EN 60749-5-2003 |
|---|---|
| Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test (IEC 60749-5:2003) |
| МКС | 31.080.01 |
| Вид стандарта | ST |
| Язык оригинала | немецкий |
| Количество страниц оригинала | 10 |
| Статус | Действует |