OEVE/OENORM EN 60749-24:2004

Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 24. Ускоренные испытания на влагостойкость. Высокоускоренное циклическое испытание(HAST) без смещения

Статус: Действует   Дата введения в действие:


Обозначение

OEVE/OENORM EN 60749-24:2004

Заглавие на русском языке

Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 24. Ускоренные испытания на влагостойкость. Высокоускоренное циклическое испытание(HAST) без смещения

Заглавие на английском языке

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 24: Accelerated moisture resistance - Unbiased HAST (IEC 60749-24:2004)

МКС

31.080.01

Вид стандарта

ST

Обозначение заменяемого(ых)

OEVE/OENORM EN 60749-24 (2003- 03-01)

Язык оригинала

немецкий

Количество страниц оригинала

11

Статус

Действует