OEVE/OENORM EN 60749-23:2004
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 23. Высокотемпературная эксплуатационная долговечность
Статус: Отменен Дата введения в действие:
| Обозначение | OEVE/OENORM EN 60749-23:2004 |
|---|---|
| Заглавие на русском языке | Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 23. Высокотемпературная эксплуатационная долговечность |
| Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life (IEC 60749-23:2004) |
| МКС | 31.080.01 |
| Вид стандарта | ST |
| Обозначение заменяемого(ых) | OEVE/OENORM EN 60749-23 (2003- 03-01) |
| Язык оригинала | немецкий |
| Количество страниц оригинала | 11 |
| Статус | Отменен |