OEVE/OENORM EN 60749-22-2004
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 22. Прочность сварных контактов
Статус: Действует Дата введения в действие:
| Обозначение | OEVE/OENORM EN 60749-22-2004 |
|---|---|
| Заглавие на русском языке | Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 22. Прочность сварных контактов |
| Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 22: Bond strength (IEC 60749-22:2002 + Corrigendum 1:2003) |
| МКС | 31.080.01 |
| Вид стандарта | ST |
| Язык оригинала | немецкий |
| Количество страниц оригинала | 20 |
| Статус | Действует |