OEVE/OENORM EN 60749+A1+A2-2002
Статус: Действует Дата введения в действие:
| Обозначение | OEVE/OENORM EN 60749+A1+A2-2002 |
|---|---|
| Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods (IEC 60749:1996 + A1:2000 + A2:2001) |
| МКС | 31.080.01 |
| Вид стандарта | ST |
| Обозначение заменяемого(ых) | OEVE/OENORM EN 60749+A1(2001.11.01) |
| Язык оригинала | немецкий |
| Количество страниц оригинала | 74 |
| Статус | Действует |