OEVE/OENORM EN 60749-4-2003

Статус: Действует   Дата введения в действие:


Обозначение

OEVE/OENORM EN 60749-4-2003

Заглавие на английском языке

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 4: Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST) (IEC 60749-4:2002)

МКС

31.080.01

Вид стандарта

ST

Язык оригинала

немецкий

Количество страниц оригинала

10

Статус

Действует