OEVE/OENORM EN 60749-4-2003
Статус: Действует Дата введения в действие:
| Обозначение | OEVE/OENORM EN 60749-4-2003 |
|---|---|
| Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 4: Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST) (IEC 60749-4:2002) |
| МКС | 31.080.01 |
| Вид стандарта | ST |
| Язык оригинала | немецкий |
| Количество страниц оригинала | 10 |
| Статус | Действует |