OEVE/OENORM EN 60749-10-2003
Статус: Действует Дата введения в действие:
Обозначение | OEVE/OENORM EN 60749-10-2003 |
---|---|
Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 10: Mechanical shock (IEC 60749-10:2002) |
МКС | 31.080.01 |
Вид стандарта | ST |
Язык оригинала | немецкий |
Количество страниц оригинала | 7 |
Статус | Действует |