OEVE/OENORM EN 60749-36-2004
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 36. Ускорение, устойчивое состояние
Статус: Действует Дата введения в действие:
| Обозначение | OEVE/OENORM EN 60749-36-2004 |
|---|---|
| Заглавие на русском языке | Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 36. Ускорение, устойчивое состояние |
| Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 36: Acceleration, steady state (IEC 60749-36:2003) |
| МКС | 31.080.01 |
| Вид стандарта | ST |
| Язык оригинала | немецкий |
| Количество страниц оригинала | 7 |
| Статус | Действует |