OEVE/OENORM EN 60749-35:2007
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 35. Акустическая микроскопия для электронных компонентов в пластиковой упаковке
Статус: Действует Дата введения в действие:
| Обозначение | OEVE/OENORM EN 60749-35:2007 |
|---|---|
| Заглавие на русском языке | Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 35. Акустическая микроскопия для электронных компонентов в пластиковой упаковке |
| Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 35: Acoustic microscopy for plastic encapsulated electronic components (IEC 60749-35:2006) |
| МКС | 31.080.01 |
| Вид стандарта | ST |
| Обозначение заменяемого(ых) | OEVE/OENORM EN 60749-35 (2005- 09-01) |
| Язык оригинала | немецкий |
| Количество страниц оригинала | 22 |
| Статус | Действует |