OEVE/OENORM EN 60749-19-2003
Статус: Отменен Дата введения в действие:
| Обозначение | OEVE/OENORM EN 60749-19-2003 |
|---|---|
| Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 19: Die shear strength (IEC 60749-19:2003) |
| МКС | 31.080.01 |
| Вид стандарта | ST |
| Язык оригинала | немецкий |
| Количество страниц оригинала | 7 |
| Статус | Отменен |