OEVE/OENORM EN 60749-25:2004
Полупроводниковые устройства. Методы механических и климатических испытаний Часть 25. Циклическое изменение температуры
Статус: Действует Дата введения в действие:
| Обозначение | OEVE/OENORM EN 60749-25:2004 |
|---|---|
| Заглавие на русском языке | Полупроводниковые устройства. Методы механических и климатических испытаний Часть 25. Циклическое изменение температуры |
| Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 25: Temperature cycling (IEC 60749- 25:2003) |
| МКС | 31.080.01 |
| Вид стандарта | ST |
| Обозначение заменяемого(ых) | OEVE/OENORM EN 60749-25 (2002- 06-01) |
| Язык оригинала | немецкий |
| Количество страниц оригинала | 15 |
| Статус | Действует |