OEVE/OENORM EN 60749-14:2004
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 14. Прочность выводов (целостность концевых выводов)
Статус: Действует Дата введения в действие:
| Обозначение | OEVE/OENORM EN 60749-14:2004 |
|---|---|
| Заглавие на русском языке | Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 14. Прочность выводов (целостность концевых выводов) |
| Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 14: Robustness of terminations (lead integrity) (IEC 60749-14:2003) |
| МКС | 31.080.01 |
| Вид стандарта | ST |
| Обозначение заменяемого(ых) | OEVE/OENORM EN 60749-14 (2002- 06-01) |
| Язык оригинала | немецкий |
| Количество страниц оригинала | 19 |
| Статус | Действует |