DIN EN 60749-8-2003
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 8. Герметичность
Статус: Дата введения в действие: 01.12.2003
| Обозначение | DIN EN 60749-8-2003 |
|---|---|
| Заглавие на русском языке | Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 8. Герметичность |
| Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 8: Sealing (IEC 60749-8:2002 + Corr. 1:2003 + Corr. 2:2003); German version EN 60749-8:2003 |
| Дата опубликования | 01.12.2003 |
| МКС | 31.080.01 |
| Вид стандарта | ST |
| Обозначение заменяемого(ых) | DIN EN 60749(2002-09, partial) |
| Язык оригинала | немецкий |
| Количество страниц оригинала | 16 |
| Перекрестные ссылки | EN 60068-2-17(1994-08)* IEC 60068-2-17(1994-07)* |
| Код цены | Preisgruppe 12 |