ГОСТ 19834.0-75
Излучатели полупроводниковые. Общие требования при измерении параметров
Статус: Действует Дата введения в действие: 01.07.1976
Обозначение | ГОСТ 19834.0-75 |
---|---|
Полное обозначение | ГОСТ 19834.0-75 |
Заглавие на русском языке | Излучатели полупроводниковые. Общие требования при измерении параметров |
Заглавие на английском языке | Semiconductor emitters. Methods for measurement of parameters. General principles |
Дата введения в действие | 01.07.1976 |
ОКС | 31.080.99 |
Код ОКП | 621000 |
Код КГС | Э29 |
Код ОКСТУ | 6309 |
Индекс рубрикатора ГРНТИ | 470181;473331 |
Аннотация (область применения) | Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые излучатели и устанавливает положения, общие для стандартов на методы измерений спектрофотометрических, преобразовательных и электрических параметров полупроводниковых излучателей. Стандарт входит в комплекс государственных стандартов на методы измерения параметров полупроводниковых излучателей |
Термины и определения | Приложение |
Вид стандарта | Стандарты на методы контроля |
Вид требований | Документ имеет отметку * |
Нормативные ссылки на: ГОСТ | ГОСТ 8.023-86; ГОСТ 12.0.004-79; ГОСТ 12.1.004-85; ГОСТ 12.1.030-81; ГОСТ 12.2.007.0-75; ГОСТ 12.3.019-80; ГОСТ 20.57.406-81; ГОСТ 10863-70; ГОСТ 18986.1-73; ГОСТ 18986.2-73; ГОСТ 18986.3-73; |
Управление Ростехрегулирования | 530 - Отдел стандартизации и сертификации информационных технологий, продукции электротехники и приборостроения |
Разработчик МНД | Российская Федерация |
Межгосударственный ТК | 169 - Изделия квантовой электроники |
Дата последнего издания | 24.03.1975 |
Номер(а) изменении(й) | переиздание с изм. 1 |
Количество страниц (оригинала) | 6 |
Статус | Действует |
Код цены | 1 |
Ограничение срока действия снято | Постановление Госстандарта № 217 от 05.03.91 |
Номер ТК за которым закреплен документ | 303 |
Номер приказа о закреплении документа за ТК | 217 |
Дата приказа о закреплении документа за ТК | 31.01.2023 |