ГОСТ Р МЭК 748-11-1-2001
Приборы полупроводниковые. Интегральные схемы. Часть 11. Раздел 1. Внутренний визуальный контроль полупроводниковых интегральных схем, за исключением гибридных схем
Статус: Действует Дата введения в действие: 01.07.2002
| Обозначение | ГОСТ Р МЭК 748-11-1-2001 |
|---|---|
| Полное обозначение | ГОСТ Р МЭК 748-11-1-2001 |
| Заглавие на русском языке | Приборы полупроводниковые. Интегральные схемы. Часть 11. Раздел 1. Внутренний визуальный контроль полупроводниковых интегральных схем, за исключением гибридных схем |
| Заглавие на английском языке | Semiconductor devices integrated circuits. Part 11. Section 1. Internal visual examination for semiconductor integrated circuits excluding hybrid circuits |
| Дата введения в действие | 01.07.2002 |
| ОКС | 31.200 |
| Код ОКП | 633000 |
| Код КГС | Э02 |
| Аннотация (область применения) | Настоящий стандарт устанавливает испытания, которые проводят с целью проверки внутренних материалов, изготовления и сборки интегральных схем на соответствие требованиям применяемых технических условий на изделия конкретных типов |
| Ключевые слова | контроль;дефекты;критерии;пассивация;металлизация;диффузия;соединения |
| Вид стандарта | Стандарты на методы контроля |
| Аутентичный текст с IEC | IEC 60748-11-1(1992) |
| Управление Ростехрегулирования | 530 - Отдел стандартизации и сертификации информационных технологий, продукции электротехники и приборостроения |
| Технический комитет России | 303 - Электронная компонентная база, материалы и оборудование |
| Дата последнего издания | 27.04.2001 |
| Количество страниц (оригинала) | 29 |
| Статус | Действует |
| Код цены | 3 |
| Номер ТК за которым закреплен документ | 303 |
| Номер приказа о закреплении документа за ТК | 217 |
| Дата приказа о закреплении документа за ТК | 31.01.2023 |