NF EN 60749-38-2008
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 38. Метод испытания на сбой для полупроводниковых устройств с памятью
Статус: Дата введения в действие:
| Обозначение | NF EN 60749-38-2008 |
|---|---|
| Заглавие на русском языке | Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 38. Метод испытания на сбой для полупроводниковых устройств с памятью |
| Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 38 : soft error test method for semiconductor devices with memory. |
| МКС | 31.080.01 |