OEVE/OENORM EN 60749-37:2008
Статус: Действует Дата введения в действие:
| Обозначение | OEVE/OENORM EN 60749-37:2008 |
|---|---|
| Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 37: Board level drop test method using an accelerometer (IEC 60749-37:2008) |
| МКС | 31.080.01 |
| Вид стандарта | ST |
| Обозначение заменяемого(ых) | OEVE/OENORM EN 60749-37 (2006-04-01) |
| Язык оригинала | немецкий |
| Количество страниц оригинала | 24 |
| Статус | Действует |