OEVE/OENORM EN 60749-38:2008
Статус: Действует Дата введения в действие:
| Обозначение | OEVE/OENORM EN 60749-38:2008 |
|---|---|
| Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 38: Soft error test method for semiconductor devices with memory (IEC 60749-38:2008) |
| МКС | 31.080.01 |
| Вид стандарта | ST |
| Обозначение заменяемого(ых) | OEVE/OENORM EN 60749-38 (2006-12-01) |
| Язык оригинала | немецкий |
| Количество страниц оригинала | 16 |
| Статус | Действует |