NF ISO 23830-2009
Поверхностный химический анализ. Масс-спектрометрия вторичных ионов. Повторяемость и постоянство шкалы относительной интенсивности в масс-спектрометрии вторичных ионов
Статус: Дата введения в действие:
| Обозначение | NF ISO 23830-2009 |
|---|---|
| Заглавие на русском языке | Поверхностный химический анализ. Масс-спектрометрия вторичных ионов. Повторяемость и постоянство шкалы относительной интенсивности в масс-спектрометрии вторичных ионов |
| Заглавие на английском языке | Surface chemical analysis - Secondary-ion mass spectrometry - Repeatability and constancy of the relative-intensity scale in static secondary-ion mass spectrometry. |
| МКС | 71.040.40 |