ISO 27448:2009
Керамика тонкая (высококачественная керамика, высококачественная техническая керамика). Метод определения эффективности самоочищения полупроводниковых фотокаталитических материалов. Измерение угла смачивания
Статус: Действует Дата введения в действие: 02.07.2009
| Обозначение | ISO 27448:2009 |
|---|---|
| Статус | Действует |
| Вид стандарта | ST |
| Заглавие на русском языке | Керамика тонкая (высококачественная керамика, высококачественная техническая керамика). Метод определения эффективности самоочищения полупроводниковых фотокаталитических материалов. Измерение угла смачивания |
| Заглавие на английском языке | Fine ceramics (advanced ceramics, advanced technical ceramics) -- Test method for self-cleaning performance of semiconducting photocatalytic materials -- Measurement of water contact angle |
| Код КС (ОКС, МКС) | 81.060.30 |
| ТК – разработчик стандарта | TC 206 |
| Язык оригинала | английский |
| Номер издания | 1 |
| Дата опубликования | 02.07.2009 |
| Количество страниц оригинала | 14 |
| Код цены | B |