ГОСТ Р 8.696-2010
Государственная система обеспечения единства измерений. Межплоскостные расстояния в кристаллах и распределение интенсивностей в дифракционных картинах. Методика выполнения измерений с помощью электронного дифрактометра
Статус: Действует Дата введения в действие: 01.09.2010
| Обозначение | ГОСТ Р 8.696-2010 |
|---|---|
| Полное обозначение | ГОСТ Р 8.696-2010 |
| Заглавие на русском языке | Государственная система обеспечения единства измерений. Межплоскостные расстояния в кристаллах и распределение интенсивностей в дифракционных картинах. Методика выполнения измерений с помощью электронного дифрактометра |
| Заглавие на английском языке | State system for ensuring the uniformity of measurements. Interplanar spacings in crystals and the intensity distribution in diffraction patterns. Method for measurement by means of an electron diffractometer |
| Дата введения в действие | 01.09.2010 |
| ОКС | 17.040.01 |
| Код КГС | Т86.1 |
| Аннотация (область применения) | Настоящий стандарт устанавливает методику выполнения измерений межплоскостных расстояний в кристаллах, кристаллических тонких пленках и покрытиях, нанокристаллах и распределений интенсивностей рефлексов в дифракционных картинах, полученных при дифракции пучка электронов на кристаллах с помощью электронного дифрактометра. Настоящий стандарт применяют для определения межплоскостных расстояний в кристаллах в диапазоне линейных размеров от 0,08 до 20,00 нм и распределения токовых интенсивностей рефлексов в дифракционных картинах, полученных от кристаллов в диапазоне от 10 в ст. минус14 до 10 в ст. минус 6 А. Настоящий стандарт не устанавливает методику определения типа элементарной решетки кристалла и индекса Миллера плоскостей кристалла, между которыми вычисляют расстояния |
| Ключевые слова | нанокристаллы;тонкие пленки;межплоскостные расстояния в кристаллах;интенсивность токовых рефлексов;электронный дифрактометр;методика выполнения измерений |
| Термины и определения | Раздел стандарта |
| Вид стандарта | Основополагающие стандарты |
| Дескрипторы (английский язык) | state system, ensuring, uniformity, measurements, interplanar spacings, crystals, intensity, distributions, diffraction patterns, method, measurement, means, electron diffractometer |
| Нормативные ссылки на: ГОСТ | ГОСТ 12.1.005; ГОСТ 12.1.045; |
| Управление Ростехрегулирования | 2 - Управление метрологии |
| Технический комитет России | 441 - Нанотехнологии |
| Дата последнего издания | 11.04.2019 |
| Номер(а) изменении(й) | переиздание |
| Количество страниц (оригинала) | 16 |
| Организация - Разработчик | Открытое акционерное общество «Научно-исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума»; Федеральное государственное учреждение «Российский научный центр «Курчатовский институт»; Государственное учреждение Российской академии наук «Институт кристаллографии им. А.В. Шубникова»; Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования «Московский физико-технический институт (государственный университет)» |
| Статус | Действует |
| Код цены | 2 |