Обозначение | ГОСТ Р 8.697-2010 |
---|
Полное обозначение | ГОСТ Р 8.697-2010 |
---|
Заглавие на русском языке | Государственная система обеспечения единства измерений. Межплоскостные расстояния в кристаллах. Методика выполнения измерений с помощью просвечивающего электронного микроскопа |
---|
Заглавие на английском языке | State system for ensuring the uniformity of measurements. Interpenar spacings in crystals. Method for measurement by means of a transmission electron microscope |
---|
Дата введения в действие | 01.09.2010 |
---|
ОКС | 17.040.01 |
---|
Код КГС | Т86.1 |
---|
Аннотация (область применения) | Настоящий стандарт устанавливает методику выполнения измерений межплоскостных расстояний в кристаллах, кристаллических тонких пленках и покрытиях, нанокристаллах и иных образцах толщиной не более 200 нм с помощью просвечивающего электронного микроскопа.
Настоящий стандарт применяют для определения межплоскостных расстояний в кристаллах в диапазоне линейных размеров от 0,08 до 10,00 нм в режиме дифракции и в диапазоне линейных размеров от 0,2 до 10,0 нм в режиме изображения |
---|
Ключевые слова | нанокристаллы;тонкие пленки;межплоскостные расстояния в кристаллах;просвечивающий электронный микроскоп;методика выполнения измерений |
---|
Термины и определения | Раздел стандарта |
---|
Вид стандарта | Основополагающие стандарты |
---|
Дескрипторы (английский язык) | state system, ensuring, uniformity, measurements, interplanar spacings, crystals, intensity, distributions, diffraction patterns, method, measurement, means, transmssion, electron microscope |
---|
Нормативные ссылки на: ГОСТ | |
---|
Управление Ростехрегулирования | 2 - Управление метрологии |
---|
Технический комитет России | 441 - Нанотехнологии |
---|
Дата последнего издания | 01.04.2019 |
---|
Номер(а) изменении(й) | переиздание |
---|
Количество страниц (оригинала) | 16 |
---|
Организация - Разработчик | Открытое акционерное общество «Научно-исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума»; Федеральное государственное учреждение «Российский научный центр «Курчатовский институт»; Государственное учреждение Российской академии наук «Институт кристаллографии им. А.В. Шубникова»; Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования «Московский физико-технический институт (государственный университет)» |
---|
Статус | Действует |
---|
Код цены | 2 |