ГОСТ Р 8.698-2010
Государственная система обеспечения единства измерений. Размерные параметры наночастиц и тонких пленок. Методика выполнения измерений с помощью малоуглового рентгеновского дифрактометра
Статус: Действует Дата введения в действие: 01.09.2010
| Обозначение | ГОСТ Р 8.698-2010 |
|---|---|
| Полное обозначение | ГОСТ Р 8.698-2010 |
| Заглавие на русском языке | Государственная система обеспечения единства измерений. Размерные параметры наночастиц и тонких пленок. Методика выполнения измерений с помощью малоуглового рентгеновского дифрактометра |
| Заглавие на английском языке | State system for ensuring the uniformity of measurements. Dimensional parameters of nanoparticles and thin films. Method for measurement by means of a small angle X-ray scattering diffractometer |
| Дата введения в действие | 01.09.2010 |
| ОКС | 17.040.01 |
| Код КГС | Т86.1 |
| Аннотация (область применения) | Настоящий стандарт устанавливает методику выполнения следующих измерений с помощью автоматического рентгеновского малоуглового дифрактометра: - максимальных размеров и электронных радиусов инерции наночастиц в монодисперсных системах в диапазоне от 1 до 100 нм; - распределения наночастиц по размерам в полидисперсных системах в диапазоне от 1 до 100 нм; - общей толщины и размера периода повторения слоев в многослойных пленках толщиной от 1 до 100 нм. Настоящий стандарт распространяется на: - материалы, содержащие системы наночастиц со среднеарифметическим расстоянием между ними не менее 10 максимальных линейных размеров, с однородной электронной плотностью, большей или меньшей электронной плотности окружающей их среды; - многослойные пленки с известным числом одинаковых групп слоев, изготовленные на твердых плоских подложках |
| Ключевые слова | наночастицы;моно- и полидисперсные системы наночастиц;электронный радиус инерции;тонкие многослойные пленки;период повторения;рентгеновский малоугловой дифрактометр;методика выполнения измерений |
| Термины и определения | Раздел стандарта |
| Вид стандарта | Стандарты на методы контроля |
| Дескрипторы (английский язык) | state system, ensuring, uniformity, measurements, dimensional parameters, nanoparticles, thin films, small angle, measurement, X-rays, scattering, diffractometer |
| Нормативные ссылки на: ГОСТ | ГОСТ 12.1.005-88; ГОСТ 12.1.045-84; |
| Управление Ростехрегулирования | 2 - Управление метрологии |
| Технический комитет России | 441 - Нанотехнологии |
| Дата последнего издания | 15.07.2019 |
| Номер(а) изменении(й) | переиздание |
| Количество страниц (оригинала) | 40 |
| Организация - Разработчик | Открытое акционерное общество «Научно-исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума»; Федеральное государственное учреждение «Российский научный центр «Курчатовский институт»; Государственное учреждение Российской академии наук «Институт кристаллографии им. А.В. Шубникова»; Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования «Московский физико-технический институт (государственный университет)» |
| Статус | Действует |
| Код цены | 4 |