ГОСТ Р 8.700-2010
Государственная система обеспечения единства измерений. Методика измерений эффективной высоты шероховатости поверхности с помощью сканирующего зондового атомно-силового микроскопа
Статус: Действует Дата введения в действие: 01.11.2010
| Обозначение | ГОСТ Р 8.700-2010 |
|---|---|
| Полное обозначение | ГОСТ Р 8.700-2010 |
| Заглавие на русском языке | Государственная система обеспечения единства измерений. Методика измерений эффективной высоты шероховатости поверхности с помощью сканирующего зондового атомно-силового микроскопа |
| Заглавие на английском языке | State system for ensuring the uniformity of measurements. Methods of surface roughness effective height measurements by means of scanning probe atomic force microscope |
| Дата введения в действие | 01.11.2010 |
| ОКС | 17.040.01 |
| Код КГС | Т86 |
| Аннотация (область применения) | Настоящий стандарт устанавливает методику измерений эффективной высоты шероховатости изотропных поверхностей твердых тел с помощью сканирующего зондового атомно-силового микроскопа. Настоящий стандарт применяют при измерениях эффективной высоты шероховатости поверхностей твердых тел в диапазоне от 10 (в степени минус девять) до 10 (в степени минус пять) м |
| Ключевые слова | твердые тела;поверхность;эффективная высота шероховатости поверхности;сканирующий зондовый атомно-силовой микроскоп;методика измерений |
| Термины и определения | Раздел стандарта |
| Вид стандарта | Основополагающие стандарты |
| Дескрипторы (английский язык) | state system, ensuring, uniformity, measurements, surface roughness, effective height, atomic-force microscopes, scanning probe microscopes, verification |
| Нормативные ссылки на: ГОСТ | ГОСТ Р 8.628; ГОСТ Р 8.629; ГОСТ Р 8.630; ГОСТ Р 8.635; ГОСТ Р 8.644; ГОСТ Р ИСО 14644-2; ГОСТ Р ИСО 14644-5; ГОСТ 12.1.005 ; ГОСТ 12.1.045; ГОСТ 25142; |
| Управление Ростехрегулирования | 2 - Управление метрологии |
| Технический комитет России | 441 - Нанотехнологии |
| Дата последнего издания | 15.07.2019 |
| Номер(а) изменении(й) | переиздание |
| Количество страниц (оригинала) | 16 |
| Организация - Разработчик | Открытое акционерное общество «Научно-исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума» (ОАО "НИЦПВ"); Федеральное государственное учреждение «Российский научный центр «Курчатовский институт»; Государственное учреждение Российской академии наук "Институт кристаллографии имени А. В.Шубникова"; Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования «Московский физико-технический институт (государственный университет)" |
| Статус | Действует |
| Код цены | 2 |