JIS C 2162-2010
Метод испытания надежности долговременного вентильного изолятора для устройств SiC при высокой температуре
Статус: Дата введения в действие:
| Обозначение | JIS C 2162-2010 |
|---|---|
| Заглавие на русском языке | Метод испытания надежности долговременного вентильного изолятора для устройств SiC при высокой температуре |
| Заглавие на английском языке | Test method of long-term reliability of gate insulator for SiC devices at high temperature |
| МКС | 29.035.01 |