NF EN 62416-2010
Полупроводниковые приборы. Испытание с барьером Шоттки на транзисторах MOS
Статус: Дата введения в действие:
| Обозначение | NF EN 62416-2010 |
|---|---|
| Заглавие на русском языке | Полупроводниковые приборы. Испытание с барьером Шоттки на транзисторах MOS |
| Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Hot carrier test on MOS transistors |
| МКС | 31.080.30 |