JIS K 0163-2010
Статус: Дата введения в действие:
| Обозначение | JIS K 0163-2010 |
|---|---|
| Заглавие на английском языке | Surface chemical analysis - Secondary-ion mass spectrometry - Determination of relative sensitivity factors from ion-implanted reference materials |
| МКС | 71.040.40 |