JIS K 0190-2010
Статус: Дата введения в действие:
| Обозначение | JIS K 0190-2010 |
|---|---|
| Заглавие на английском языке | Microbeam analysis - Electron probe microanalysis - Guidelines for qualitative point analysis by wavelength dispersive X-ray spectrometry |
| МКС | 71.040.99 |