ISO 13067:2011
Микропучковый анализ. Дифракция отраженных электронов. Измерение среднего размера зерна
Статус: Заменен Дата введения в действие: 28.10.2011
| Обозначение | ISO 13067:2011 |
|---|---|
| Обозначение | ISO 13067:2011 |
| Статус | Заменен |
| Статус | Заменен |
| Вид стандарта | ST |
| Вид стандарта | ST |
| Заглавие на русском языке | Микропучковый анализ. Дифракция отраженных электронов. Измерение среднего размера зерна |
| Заглавие на русском языке | Микропучковый анализ. Дифракция отраженных электронов. Измерение среднего размера зерна |
| Заглавие на английском языке | Microbeam analysis -- Electron backscatter diffraction -- Measurement of average grain size |
| Заглавие на английском языке | Microbeam analysis -- Electron backscatter diffraction -- Measurement of average grain size |
| Дата отмены | 15.07.2020 00:00:00 |
| Дата отмены | 15.07.2020 00:00:00 |
| Код КС (ОКС, МКС) | 71.040.50 |
| Код КС (ОКС, МКС) | 71.040.50 |
| Обозначение заменяющего | ISO 13067:2020 |
| Обозначение заменяющего | ISO 13067:2020 |
| ТК – разработчик стандарта | TC 202 |
| ТК – разработчик стандарта | TC 202 |
| Язык оригинала | английский |
| Язык оригинала | английский |
| Номер издания | 1 |
| Номер издания | 1 |
| Дата опубликования | 28.10.2011 |
| Дата опубликования | 28.10.2011 |
| Количество страниц оригинала | 26 |
| Количество страниц оригинала | 26 |
| Аннотация (область применения) | Настоящий международный стандарт описывает методы измерения среднего размера зерна (кристаллита) на двумерных полированных шлифах с помощью дифракции отраженных электронов (ДОЭ=EBSD). Этот метод используется для определения ориентации, разориентации и коэффициента качества изображения как функции структурной локализации кристаллического образца [1]. ПРИМЕЧАНИЕ 1 Тогда как традиционные методы определения размера зерна (кристаллита) с помощью оптического микроскопа уже хорошо отработаны, методы ДОЭ предлагают ряд преимуществ над старыми методами, включая улучшенную пространственную разрешающую способность и количественное описание ориентации кристаллитов. ПРИМЕЧАНИЕ 2 Этот метод также годится для измерения размера кристаллита материалов сложного строения, например, материалов со значительным содержанием двухфазной микроструктуры. ПРИМЕЧАНИЕ 3 Необходимо предупредить пользователя об осторожной интерпретации результатов при попытке исследования образцов с высоким уровнем деформации |
| Аннотация (область применения) | Настоящий международный стандарт описывает методы измерения среднего размера зерна (кристаллита) на двумерных полированных шлифах с помощью дифракции отраженных электронов (ДОЭ=EBSD). Этот метод используется для определения ориентации, разориентации и коэффициента качества изображения как функции структурной локализации кристаллического образца [1]. ПРИМЕЧАНИЕ 1 Тогда как традиционные методы определения размера зерна (кристаллита) с помощью оптического микроскопа уже хорошо отработаны, методы ДОЭ предлагают ряд преимуществ над старыми методами, включая улучшенную пространственную разрешающую способность и количественное описание ориентации кристаллитов. ПРИМЕЧАНИЕ 2 Этот метод также годится для измерения размера кристаллита материалов сложного строения, например, материалов со значительным содержанием двухфазной микроструктуры. ПРИМЕЧАНИЕ 3 Необходимо предупредить пользователя об осторожной интерпретации результатов при попытке исследования образцов с высоким уровнем деформации |
| Количество страниц перевода | 28 |
| Количество страниц перевода | 28 |
| Код цены | C |
| Код цены | C |