OEVE/OENORM EN 60749-15:2011
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 15. Стойкость к температуре пайки при штырьковом монтаже приборов
Статус: Действует Дата введения в действие:
| Обозначение | OEVE/OENORM EN 60749-15:2011 |
|---|---|
| Заглавие на русском языке | Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 15. Стойкость к температуре пайки при штырьковом монтаже приборов |
| Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 15: Resistance to soldering temperature for through-hole mounted devices (IEC 60749-15:2010) (german version) |
| МКС | 31.080.01 |
| Вид стандарта | ST |
| Обозначение заменяемого(ых) | OEVE/OENORM EN 60749-15 (2009-06-15) |
| Язык оригинала | немецкий |
| Количество страниц оригинала | 10 |
| Статус | Действует |