OEVE/OENORM EN 60749-30:2012
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 30. Предварительное кондиционирование негерметично смонтированных на поверхности приборов перед испытаниями на надежность
Статус: Действует Дата введения в действие:
| Обозначение | OEVE/OENORM EN 60749-30:2012 |
|---|---|
| Заглавие на русском языке | Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 30. Предварительное кондиционирование негерметично смонтированных на поверхности приборов перед испытаниями на надежность |
| Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 30: Preconditioning of non-hermetic surface mount devices prior to reliability testing (IEC 60749-30:2005 + A1:2011) (german version) |
| МКС | 31.080.01 |
| Вид стандарта | ST |
| Обозначение заменяемого(ых) | OEVE/OENORM EN 60749-30/A1 (2009-10-01) |
| Язык оригинала | немецкий |
| Количество страниц оригинала | 14 |
| Статус | Действует |