NF EN 60749-7-2012
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 7. Измерение внутреннего содержания влаги и анализ других остаточных газов
Статус: Дата введения в действие:
| Обозначение | NF EN 60749-7-2012 |
|---|---|
| Заглавие на русском языке | Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 7. Измерение внутреннего содержания влаги и анализ других остаточных газов |
| Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 7 : internal moisture content measurement and the analysis of other residual gases |
| МКС | 31.080.01 |