OEVE/OENORM EN 60749-29:2012
Статус: Действует Дата введения в действие:
| Обозначение | OEVE/OENORM EN 60749-29:2012 |
|---|---|
| Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 29: Latch-up test (IEC 60749-29:2011) (german version) |
| МКС | 31.080.01 |
| Вид стандарта | ST |
| Обозначение заменяемого(ых) | OEVE/OENORM EN 60749-29 (2009-11-01) |
| Язык оригинала | немецкий |
| Количество страниц оригинала | 27 |
| Статус | Действует |