OEVE/OENORM EN 60749-40:2012
Полупроводниковые устройства. Методы механических и климатических испытаний. Часть 40. Метод испытания уровня падения табло с применением тензометра
Статус: Действует Дата введения в действие:
| Обозначение | OEVE/OENORM EN 60749-40:2012 |
|---|---|
| Заглавие на русском языке | Полупроводниковые устройства. Методы механических и климатических испытаний. Часть 40. Метод испытания уровня падения табло с применением тензометра |
| Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 40: Board level drop test method using a strain gauge (IEC 60749-40:2011) (german version) |
| МКС | 31.080.01 |
| Вид стандарта | ST |
| Обозначение заменяемого(ых) | OEVE/OENORM EN 60749-40 (2010-06-01) |
| Язык оригинала | немецкий |
| Количество страниц оригинала | 23 |
| Статус | Действует |