NF EN 60749-23/A1-2012
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 23. Высокотемпературная эксплуатационная долговечность
Статус: Дата введения в действие:
| Обозначение | NF EN 60749-23/A1-2012 |
|---|---|
| Заглавие на русском языке | Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 23. Высокотемпературная эксплуатационная долговечность |
| Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23 : high temperature operating life |
| МКС | 31.080.01 |